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ミツトヨ 513-424-10H TI-133HX テストインジケータてこ式ダイヤルゲージ縦形ノークラッチ標準アナログ

ミツトヨ 513-424-10H TI-133HX テストインジケータてこ式ダイヤルゲージ縦形ノークラッチ標準アナログ

商品説明・詳細
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商品情報

【画像はイメージです】
発送日が表示納期を超える場合は、別途ご相談いたします。
在庫欠品時など在庫保有先を調査することも可能です。納期にお困りでしたら是非、お問合せ下さい

■テストインジケータ 513-424-10H TI-133HXの特長

ダイヤルゲージで測れない狭い・深い場所の測定に
新構造で測定子保持部のガタツキ発生を抑止、測定子感度と追従性悪化を防止
弱磁性体の指針、超硬測定子で磁気の影響に左右されにくいです
オオイ板は、外光を反射しにくい平面形状。傷、汚れ、反射を抑制するコーディングを実施
外枠・オオイ板の一体構造で、目盛板前面や隙間からの切削液・油の浸入を防止
本体のアリ部にφ6アリ溝付ステムを取付可能。使用状況に応じ取付位置の調整が可能
完成品検査は、JIS B7533:2015に基づいて検査を実施。ダイヤル面を上にした姿勢で検査を行い精度保証しています※2
※2：その他姿勢で検査成績書発行を希望される場合は有償です。お問い合わせください
目量：0.01mm
測定範囲：0.5mm
目盛仕様：0-25-0
指示誤差
・全測定範囲行き：6μm
・10目盛：5μm
戻り誤差：4μm
繰り返し精密度：3μm
測定力：0.3N以下
倍目盛幅
超硬測定子(弱磁性)

メーカー：ミツトヨ(MITUTOYO)

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在庫欠品時など在庫保有先を調査することも可能です。納期にお困りでしたら是非、お問合せ下さい

■テストインジケータ 513-424-10H TI-133HXの特長

ダイヤルゲージで測れない狭い・深い場所の測定に
新構造で測定子保持部のガタツキ発生を抑止、測定子感度と追従性悪化を防止
弱磁性体の指針、超硬測定子で磁気の影響に左右されにくいです
オオイ板は、外光を反射しにくい平面形状。傷、汚れ、反射を抑制するコーディングを実施
外枠・オオイ板の一体構造で、目盛板前面や隙間からの切削液・油の浸入を防止
本体のアリ部にφ6アリ溝付ステムを取付可能。使用状況に応じ取付位置の調整が可能
完成品検査は、JIS B7533:2015に基づいて検査を実施。ダイヤル面を上にした姿勢で検査を行い精度保証しています※2
※2：その他姿勢で検査成績書発行を希望される場合は有償です。お問い合わせください
目量：0.01mm
測定範囲：0.5mm
目盛仕様：0-25-0
指示誤差
・全測定範囲行き：6μm
・10目盛：5μm
戻り誤差：4μm
繰り返し精密度：3μm
測定力：0.3N以下
倍目盛幅
超硬測定子(弱磁性)

メーカー：ミツトヨ(MITUTOYO)

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